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類型	型號	衰減	探頭帶寬	輸入阻抗	zui大輸入電壓	RIGOL示波器兼容性	推薦應用場合
無源高阻探頭	RP2200	1:1或10:1切換	1X:DC~7MHz 10X:DC~150MHz	1X:1MΩ±2%,100pF±20pF 10X:10MΩ±2%,17pF±5pF	1X:CAT\|\|150V AC 10X:CAT\|\|300V AC	DS1000系列,DS2000系列 DS4000系列,DS6000系列	小信號測量（1X）, 低頻通用測量
	RP3300A	1:1或10:1切換	1X:DC~8MHz 10X:DC~350MHz	1X:1MΩ±2% ,100pF±20pF 10X:10MΩ±2%,16pF±5pF	1X:CAT\|\|150V AC 10X:CAT\|\|300V AC	DS1000系列,DS2000系列 DS4000系列,DS6000系列	小信號測量（1X）, 低頻通用測量
	RP3500A	固定10:1	DC~500MHz	10MΩ±2%,13pF±3pF	CAT\|\|300V AC	DS1000系列,DS2000系列 DS4000系列,DS6000系列	通用測量
	RP5600A	固定10:1	DC~600MHz	10MΩ±2%,12pF±1pF	CAT\|\|300V AC	DS4000系列,DS6000系列	通用測量
無源低阻探頭	RP6150A	固定10:1	DC~1.5GHz	500Ω±10Ω, 1.6pF	CAT\|10V AC	DS4000系列,DS6000系列	高頻單端小信號測量
無源高壓探頭	RP1300H	固定100:1	DC~300MHz	100MΩ,5.5pF	CAT\|2000V（DC+AC） CAT\|\|1500V（DC+AC）	DS1000系列,DS2000系列 DS4000系列,DS6000系列	高壓測量
無源高壓探頭	RP1050H	固定1000:1	DC~50MHz	100MΩ,3pF±0.5pF	DC:0~15KV DC AC:pulse≤30KVp-p AC:sine wave≤10KVrms	DS1000系列,DS2000系列 DS4000系列,DS6000系列	高壓測量
有源差分探頭	RP7150	固定10:1	DC~1.5GHz	差模:50kΩ±1%,<1pF 單端:25kΩ±1%,<1pF	30V Peak,CAT I	DS4000系列,DS6000系列	差分/單端高頻測量
高壓差分探頭	RP1025D	X20,X50,X200	25MHz	差分:4MΩ/1.2pF 單端對地:2MΩ/2.3pF	衰減比為X20: ≤140Vpp,（約45Vrms或DC）衰減比為X50: ≤350Vpp,（約110Vrms或DC）衰減比為X200: ≤1400Vpp,（約450Vrms或DC）	DS1000系列,DS2000系列 DS4000系列,DS6000系列	高壓差分/單端測量
	RP1050D	X100,X200,X500,X1000	50MHz	差分:100MΩ/1.2pF 單端對地:50MΩ/2.3pF	衰減比為X100: ≤700Vpp,（約230Vrms或DC）衰減比為X200: ≤1400Vpp,（約460Vrms或DC）衰減比為X500: ≤3500Vpp,（約1140Vrms或DC）衰減比為X1000: ≤7000Vpp,（約2300Vrms或DC）	DS1000系列,DS2000系列 DS4000系列,DS6000系列	高壓差分/單端測量
	RP1100D	X100,X200,X500,X1000	100MHz	差分:100MΩ/1.2pF 單端對地:50MΩ/2.3pF	衰減比為X100: ≤700Vpp,（約230Vrms或DC）衰減比為X200: ≤1400Vpp,（約460Vrms或DC）衰減比為X500: ≤3500Vpp,（約1140Vrms或DC）衰減比為X1000: ≤7000Vpp,（約2300Vrms或DC）	DS1000系列,DS2000系列 DS4000系列,DS6000系列	高壓差分/單端測量

	型號	檔位	探頭帶寬	幅度精度	zui大輸入電流	兼容的示波器	推薦應用場合
電流探頭	RP1001C	0.01V/A和0.1V/A	DC至300KHz	100mV/A:±3% ±50mA （50mA至10A峰值范圍） 10mV/A:±4% ±50mA （500mA至40A峰值范圍） 100mV/A:±15% zui大值（40A峰值至100A峰值范圍）	DC:±100A AC P-P:200A AC RMS:70A	DS1000系列,DS2000系列 DS4000系列,DS6000系列	電流測量，9V電池或外接標配電源適配器供電
	RP1002C	0.05V/A和0.5V/A	DC至1MHz	500mV/A:±3% ±20mA （20mA至14A峰值范圍） 50mV/A:±4% ±200mA （200mA至100A峰值范圍） 50mV/A:±15% zui大值（100A至140A峰值范圍）	DC:±70A AC P-P:140A AC RMS:50A	DS1000系列,DS2000系列 DS4000系列,DS6000系列	電流測量，9V電池或外接標配電源適配器供電
	RP1003C	0.1V/A	DC至50MHz	±1.0%rdg ±1mV, ≤30A ±2.0%rdg , 30A至50A peak非連續	AC P-P:50A peak,非連續 AC RMS:30A	DS1000系列,DS2000系列 DS4000系列,DS6000系列	檢測流經導體的電流，并將其轉換為可在測量儀器上顯示和測量的電壓
	RP1004C	0.1V/A	DC至100MHz	±1.0%rdg ±1mV, ≤30A ±2.0%rdg , 30A至50A peak非連續	AC P-P:50A peak,非連續 AC RMS:30A	DS1000系列,DS2000系列 DS4000系列,DS6000系列	檢測流經導體的電流，并將其轉換為可在測量儀器上顯示和測量的電壓
	RP1005C	0.01V/A	DC至10MHz	±1.0%rdg ±1mV, ≤150A ±2.0%rdg , 150A至300A peak	AC P-P:300A peak,非連續 500A Peak，脈寬≤30us AC RMS:150A	DS1000系列,DS2000系列 DS4000系列,DS6000系列	檢測流經導體的電流，并將其轉換為可在測量儀器上顯示和測量的電壓

型號	類型	描述
	RP2200	無源高阻探頭	無源高阻探頭，帶寬：1X:7MHz;10X:150MHz；可用于小信號測量（1X檔），低頻通用測量；RIGOL <=100MHz帶寬的示波器標配，數量與通道數相同，也可單獨購買。兼容RIGOL示波器：1000B/CA/D/E/U/Z/2000/4000/6000系列。
	CB-USBA-USBB-FF-150	標配/選配附件	DS1000B和DS6000標配的USB數據線。可單獨購買。
	電源線	標配附件	儀器標配的符合所在國標準的電源線，也可單獨購買。
	資源光盤	標配附件	資源光盤（包含用戶手冊和應用軟件）。
	快速指南	標配附件	儀器標配的快速使用指南。
	USB-GPIB	選配附件	USB 到 GPIB 轉換器。
	便攜軟包	選配附件	DS1000CA/DS1000E/DS1000D/DS1000B系列的便攜軟包。
	RT50J	選配附件	50歐姆阻抗適配器（2W,1GHz）
	RP1025D	高壓差分探頭	高壓差分探頭，帶寬:25MHz; 電壓范圍 ≤ 1400Vpp 兼容RIGOL示波器：所有RIGOL示波器。
	RP1050D	高壓差分探頭	高壓差分探頭，帶寬:50MHz; 電壓范圍≤ 7000Vpp 兼容RIGOL示波器：所有RIGOL示波器。
	RP1100D	高壓差分探頭	高壓差分探頭，帶寬:100MHz; 電壓范圍 ≤ 7000Vpp 兼容RIGOL示波器：所有RIGOL示波器。
	RP1001C	電流探頭	電流探頭，帶寬:DC~300kHz，Max.DC:±100A,AC P-P:200A,AC RMS:70A 兼容RIGOL示波器：所有RIGOL示波器。
	RP1002C	電流探頭	電流探頭，帶寬:DC~1MHz，Max.DC:±70A,AC P-P:140A,AC RMS:50A 兼容RIGOL示波器：所有RIGOL示波器。
	RP1003C	電流探頭	電流探頭，帶寬:DC~50MHz，Max.AC Peak:50A（Non-continuous）,AC RMS:30A 兼容的RIGOL 示波器：DS1000B,1000CA,1000D,1000E,2000，4000，6000 系列.
	RP1004C	電流探頭	電流探頭，帶寬:DC~100MHz，Max.AC Peak:50A（Non-continuous）,AC RMS:30A 兼容的RIGOL示波器：DS1000B,1000CA,1000D,1000E,2000，4000，6000系列.
	RP1005C	電流探頭	電流探頭，帶寬:DC~10MHz，Max.150 A rms,300 A peak （Non-continuous）,500 A peak （@pulse width <=30 ms）兼容的RIGOL 示波器：DS1000B,1000CA,1000D,1000E,2000，4000，6000 系列.
	RP1000P	探頭電源	為RP1003C,RP1004C,RP1005C供電的探頭電源，可支持4路供電。

DS1000E系列是一款高性能指標、經濟型的數字示波器，廣泛應用于教育培訓、產線測試和企業科研等各個領域。

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